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Silicon Photonics Wafer Test System

Test & Measurement | Optics & Photonics | Silicon Photonics Wafer Test System | Optic

Das IFA-640-E ist ein automatisches Ausrichtungssystem für Si-Photonics-Wafer. Das System besteht aus „Probe Station Modul“, „Optical Alignment Modul“ und „Measurement Modul“.

Silicon Photonics Wafer Test System

Key Features

  • Wafer-Level-Tester für bis zu 12-Zoll-Wafer
  • Automatische Eingangs-/Ausgangskopplung (vertikale Kopplung auf Waferebene)
  • Kopplung mit Faserarray-Blöcken und/oder optischen Fasern
  • Komfortable grafische Benutzeroberfläche (GUI) mit der Möglichkeit, benutzerprogrammierbare Betriebs-/Messsequenzen zu erstellen

Silicon Photonics Wafer Test System

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